美高森美Microsemi 3120A相位噪声测试仪
Microsemi（并购了Symmetricom公司）公司开发了直接数字相位噪声测量技术，这项技术已经扩展到一个测试探头。精确的相噪和阿伦方差测量成本显著降低。
Microsemi（并购了Symmetricom公司）的3120A是一款高性能的测试探头，可以测量射频源端口和双端口设备的振幅、相位和频率的稳定（频率：0.5MHz—30MHz）。
3120A的测试内容如下：
l 实时“带状图”相和具有亚皮秒（PS）精度和频率的差异
l 绝对频率计数为：13+位每秒，最大17位（升级选项）)
l 阿伦方差(ADEV)通常小于1E-13（t=1s）
l 改进的阿伦方差（MDEV）方面，哈德曼方差(HDEV)，时间偏差（TDEV）。（升级选项）
l RMS集成的相噪和相噪偏移量为：
1Hz—100kHz，水平低于-170dBc/Hz(升级选项)
l AM噪声偏移量为：1Hz—100kHz，<-170dBc/Hz(升级选项)
l RMS集成的抖动时间小于100fs，残余抖动为：1Hz—100kHz（升级选项）
3120A需要一台PC主机和用户提供的外部参考振荡器。几乎所有方面的测量性能的准确度、重复性、本底噪声和杂散响应都依赖于能够提供最好的参考信号，如：采用一个独立的低噪声OCXO以进行相位噪声和调幅噪声测量等。
主要特点：
l 独立输入和参考频率为：0.5MHz-30MHz
l PM噪声的互相关测试偏移量为：1Hz-100kHz
l 阿伦方差(ADEV)通常为：<1E-13(t=1s)
l SFDR指定为：-100dBc,，通常低于-120dBc
l 频率和相位差图以一百万+点记录描绘振荡器漂移
l 包括数字I/O拓展端口和独立ADCs输入
l 易于使用的测量软件，完整多线程高性能测量
l ASCII文件格式拥有灵活的数据导入和导出选项
可选功能（软件升级）
l AM噪声
l MDEV、HDEV、TDEV和抖动测量的信号统计特性
l 频率计数器许可协议
l 模板测试许可
l 所有受支持的测量，都具有用户可定义的限制线
主要优点
l 在几秒内能显示出测试结果
l 支持不同频率的输入和参考的测试
l 高性价比的解决方案
l 无测量的校准要求，节省时间
l 易于具有直观图形用户界面的软件使用
l 小尺寸
功能及指标 | 3120A |
带宽 | 0.5~30MHz(正弦波) |
输入信号电平 | -5~20dBm |
相噪测量准确度 | NA |
短稳指标 | <1E-13@1秒(0.5Hz带宽) |
系统底噪 （10MHz输入） | 1Hz，@5MHz<-140dBc |
1Hz，@25MHz<-130dBc |
10kHz，@5MHz<-170dBc |
10kHz，@25MHz<-165dBc
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