冲击试样缺口投影仪

导读： 专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器

 性能说明：

CST-50型是我们根据目前国内广大用户的实际需求和《》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。

主要技术指标：
1、投影屏直径 ：180mm
2、工作台尺寸 ：
方工作台尺寸：110×125mm
方工作台直径：90mm
工作台玻璃直径：70mm
3、工作台行程 ：
纵向：±10mm
横向：±10mm
升降：±12mm
4、工作台转动范围: 0～360°
5、仪器放大倍率：50X
物镜放大倍率： 2.5X
投影物镜放大倍率：20x
6、光源（卤钨灯）：12V    100W
7、电源：  220V   50Hz
8、外形尺寸：515×224×603mm
9、重量：  20kg