万和超声涂层测厚仪系统校准方法：

      在关机状态下同时按住“ON/OFF”键和“MENU”键，先放开“ON/OFF”键然后放开“MENU”键即可进入系统校准模式。

      本系统校准共需要校准五个标准样片，进入系统后首先显示“铁基”界面，此时要把探头放到被测件的裸露基体上进行测量。测量两次后如果测量没有错误操作，伴随着两声蜂鸣声便进入di一个样片的测量。屏幕显示出厂时提供的di一个样片值。如果显示的样片值和真实值不符，可以通过“▲”、“▼”键来进行加1或减1操作。按住“▲”或“▼”键不动可以连续加或减，直到调整到显示值和真实值相同为止。调整完样片值之后即可对di一个样片进行测量，测量两次无误后，伴随着两声蜂鸣，一起进入下一个样片的校准。若测量两次后仍无两声蜂鸣，说明操作有误，重新测量一次即可。接下来四个样片的调整方法同上。

当第五个样片校准完成后屏幕显示“0000”，进入开机界面，仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。注意：样片校准时要按照由小到大的顺序进行。

      本系列膜层测厚仪是铁磁性材料保护层质量检测的必备工具。采用磁性测厚法，方便无损地测量铁磁性材料上非磁性材料的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。主要用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷涂、搪瓷等行业。

济宁万和超声电子设备有限公司专业生产超声波测厚仪：

      WH系列超声波测厚仪是运用单片机技术研制的一种低功能、袖珍式、智能化、无损检测厚度的仪器，灵敏度高，稳定性好，工作可靠，操作简便。主要用于电力、石油、化工、冶金、机械、船舶等行业检测管道、锅炉和压力容器的壁厚，是设备安全运行的保障。该机还配有小管径探头，高、中温探头以供选择。

济宁万和公司涂层测厚仪影响测量的若干因素

基体金属磁化：

      磁性法测量受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校对。

基体金属厚度：每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。

边缘效应：

      本仪器对试片表面形状的陡变敏感，因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

曲率：试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。