牛津膜厚仪CMI900无损分析:无需样品制备,经行业认证的技术和可靠性,操作简单,只需要简单的培训,分析只需三步骤
杰出的分析准确性,在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验,膜厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。X-Strata系列基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包,实现了对CMI900/920主机的全面自动化控制。
产品型号:CMI900膜厚仪
高性能X射线膜厚仪
快速精确的分析:正比计数探测器和50瓦微焦X射线管,大大提高了灵敏度
简单的元素区分:二次光束过滤器可以分离重叠元素
性能优化,测量元素范围广: 可预设参数
CMI900膜厚仪 提供800多种预设应用参数/方法
出的长期稳定性:
自动热补偿测量仪器温度,纠正变化,提供稳定的结果
简单快速的光谱校准,定期检查仪器性能(如灵敏度),并提供必要的纠正
坚固耐用的设计
可以在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
经行业验证的技术,在全球销售量超过3000台
行业及市场
1.电子行业-有效控制生产过程,提高生产力
2.分析电子件上的金和钯的厚度,例如Au/Ni/Cu,Au/Pd/Ni/Cu
3.测量线路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy
4.五金电镀行业-电镀表面处理的成本降低,产量增大
5.多样品和多点分析
6.单层或多层厚度测量
7.镀液成份分析
8.贵金属/金属合金-珠宝及其他合金的快速无损分析
9.黄金分析及其他元素测定
10贵金属合金检测
11.检测- 确保产品符合规格
12.测定有害物质从ppm级到高百分比级
13.有毒元素定量分析,例如检测镉、汞、铅等含量是否符合规定
14按照IEC62321进行RoHS筛选
15对航空焊料可靠性鉴定进行高可靠检测
16.新能源行业-确保产品有效一致
17光电池薄膜吸收层(如CIS, CIGS, CdTe)的成份分析
18通过镀层厚度分析优化导电性