FISCHERSCOPE XDAL X射线荧光测厚仪概述:
X 射线荧光测试仪,带有可编程的 X/Y平台和Z轴,可自动测量镀层厚度和分析材料组分
FISCHERSCOPE XDAL X射线荧光测厚仪特点:- 配备了半导体探测器,由于有更好的信噪比,能更精确地进行元素分析和薄镀层测量
- 使用微聚焦管可以测量较小的测量点,但因为其信号量较低,不适合测量十分细小的结构
- 底部C型开槽的大容量测量舱
- 有弹出功能的快速、可编程XY平台
FISCHERSCOPE XDAL X射线荧光测厚仪典型应用领域:- 镀层和合金的材料分析(还适用于薄镀层和低含量成分)
- 来料检验,生产监控
- 研究和开发
- 电子工业
- 接插件和触点
- 黄金、珠宝和钟表工业
- 可以测量数纳米薄的镀层,如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层
- 痕量元素分析
- 在有“高可靠性”要求的应用中确定铅(Pb)含量
- 硬质镀层分析
X射线测厚仪原理 XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线测厚仪适用范围
XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
菲希尔电解测厚仪 - 用于库仑电量分析的涂层厚度测量仪器。