德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY 5000
X射线荧光测量系统,用于在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析 FISCHERSCOPE X-RAY 5000
X射线荧光测量系统特点- 法兰测量头,用于在生产线中进行连续测量
- X射线探测器可以为比例计数管,珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
- 在生产过程中直接用典型产品进行快速简单校
- 可在真空或大气中使用
- 可以在高达 500° C 的高温基材上进行测量
- 坚固和耐用是设计的重心
FISCHERSCOPE X-RAY 5000
X射线荧光测量系统典型应用领域- 光伏技术(CIGS,CIS,CdTe)
- 分析对金属带、金属薄膜和塑料薄膜上的镀层
- 连续生产线
- 喷射和电镀生产线监测
- 测量大面积样品
X射线测厚仪原理 XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线测厚仪适用范围
XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
菲希尔电解测厚仪 - 用于库仑电量分析的涂层厚度测量仪器。