JXF-60
能量色散X荧光光谱仪简称XRF,是一种物理的元素分析方法。近年来XRF主要作为一种快速检测手段在电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业发挥了很大的作用。XRF具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势。
在环保领域和食品领域,XRF通过直接测试的方法,快速筛选出样品中的有害元素是否超出标准。
JXF-60在金属成分检测方法具有优越的测试表现,可以测试铜合金的成分,铁合金的成分,铝合金的成分,测试稳定性和准确率在行业内都比较优秀。
JXF-60对测试电镀镀层应用广泛,可以测试铁镀锌,铁镀铬,铜镀镍金,铜镀锡,……
另外,XRF在现场分析和过程控制分析等方面的应用很广,例如废旧金属回收,土壤现场检测,在线物料检测等。
4.1.1. 工业电脑及仪器一体化集成,运行稳定且外观精美;
4.1.2. 采用真实500万像素摄像头,样品观察清晰,定位准确;
4.1.3. 采用独特元素二次强度提取算法,提高了微量元素的检出限;
4.1.4. 自定义的物料测试完成声音提醒功能,方便操作人员多任务工作;
4.1.5. 工作指示灯采用流水灯控制模块,操作人员更直观了解仪器状态;
4.1.6. 软件集成了同一模式多个RoHS限量标准的判断功能;
4.1.7. 同一软件集成了成分分析和镀层厚度分析。
提示音乐提高时间利用效率,同时增加了工作的乐趣。
4.2.1 集成数据统计功能,方便品质部门通过筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况;
4.2.2 提供开放式工作曲线标定功能,可为用户量身定做最佳的有害物质检测方法和控制方案;
4.2.3 软件开机自检与故障判断功能,保证仪器始终在最佳工作状态下运行以及出现异常时及时排除;
4.2.4 分析数据一键备份\还原功能,避免因误操作或其它原因造成的损失,保障数据及系统文件安全;
4.2.5 根据用户需求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF和列表等),符合工厂多种统计要求;
4.2.6 软件支持多用户注册,便于品质部门快速追溯疑问物料检测情况;
4.2.7 具有核心硬件实时温度监控功能,通过热源分析设计与软件实时控制,将硬件的热量及时排出,减少探测器受温度变化而产生的影响;
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仪器简介:
VERTEX 70是Bruker公司集30年的红外光谱仪的制造经验,于2004年推出的全数字化红外光谱仪,该仪器采用多项先进技术,使得Bruker公司的红外光谱仪性能更优异,使用更方便。
该仪器采用的新技术有:
1. RockSolid干涉仪,Bruker的专利技术;
2. DigiTect技术,检测器为数字检测器,Bruker的专利技术;
3. BRAIN技术,Bruker的人工智能网络技术,随时反馈仪器的状态;
4. AAR技术,附件的自动识别技术;
5. ACR技术,光学组件的自动识别,并将参数反馈到OPUS红外光谱软件中;
另外,由于Bruker的全新的数字化设计,用户还能对仪器进行Validation(校验)测试,保证测试数据的准确可靠。
技术参数:
1.信噪比:50,000:1(峰、峰值,一分钟测试)
2.采样速率:80张谱/秒(16cm-1谱分辨率)
3.测量谱区:30,000-10cm-1
4.步进扫描-时间分辨率:5ns
5.分辨率:0.4cm-1,可选0.16cm-1
主要特点:
1.多机联用:为用户提供多个光束的输入输出口,供用户连接不同的附件。
2.步进扫描:首创step-scan获R&D100金奖
3.时间分辨: 快速扫描80张/秒、步进扫描;5ns
4.波段扩展:三光源、多检测器、可见光多谱带转换自如
5.极高的稳定性和灵敏度