一、设备概述：
本低压熔断器触头性能测试台完全满足最新国家标准IEC60269-1：2009、GB13539.1-2015（低压熔断器第1部分：基本要求） 标准中第8.10章节“触头不变坏验证”的试验要求，用于模拟熔断器在严酷使用条件下，验证长期运行中不受扰动的触头性能损坏情况。
二、主要技术参数：
1. 设备输出电压：0~690V；
2. 设备输出电流：0~5000A；
3. 通电时间：1~9999s；
4. 断电时间：1~9999s；
5. 试验样品：3组；
6. 试验循环次数：1-800次可设置；
一、设备概述：
本低压熔断器触头性能测试台完全满足最新国家标准IEC60269-1：2009、GB13539.1-2015（低压熔断器第1部分：基本要求） 标准中第8.10章节“触头不变坏验证”的试验要求，用于模拟熔断器在严酷使用条件下，验证长期运行中不受扰动的触头性能损坏情况。
二、主要技术参数：
1. 设备输出电压：0~690V；
2. 设备输出电流：0~5000A；
3. 通电时间：1~9999s；
4. 断电时间：1~9999s；
5. 试验样品：3组；
6. 试验循环次数：1-800次可设置；
一、设备概述：
本低压熔断器触头性能测试台完全满足最新国家标准IEC60269-1：2009、GB13539.1-2015（低压熔断器第1部分：基本要求） 标准中第8.10章节“触头不变坏验证”的试验要求，用于模拟熔断器在严酷使用条件下，验证长期运行中不受扰动的触头性能损坏情况。
二、主要技术参数：
1. 设备输出电压：0~690V；
2. 设备输出电流：0~5000A；
3. 通电时间：1~9999s；
4. 断电时间：1~9999s；
5. 试验样品：3组；
6. 试验循环次数：1-800次可设置；
一、设备概述：
本低压熔断器触头性能测试台完全满足最新国家标准IEC60269-1：2009、GB13539.1-2015（低压熔断器第1部分：基本要求） 标准中第8.10章节“触头不变坏验证”的试验要求，用于模拟熔断器在严酷使用条件下，验证长期运行中不受扰动的触头性能损坏情况。
二、主要技术参数：
1. 设备输出电压：0~690V；
2. 设备输出电流：0~5000A；
3. 通电时间：1~9999s；
4. 断电时间：1~9999s；
5. 试验样品：3组；
6. 试验循环次数：1-800次可设置；
