高校教学型介电温谱仪可以提供单样品块体/薄膜样品测量系统平台和多样品块体/薄膜样品测量系统平台，还可以提供不同的测量环境（如：流动气氛、真空气氛、不同氧气压），以满足科研多样化要求。高校教学型介电温谱仪是由佰力博数十位工程师和用户抽丝剥茧，调整、推翻、解决定义而出的。

partulab教学型介电温谱仪需要搭配WK6500系列阻抗分析仪适用，也可以兼容AgilentE4294A、E4890A、E4980A阻抗分析仪和TH2828S LCR。

技术规格
仪器型号：HTDS-500
测量温度:500℃
升/降温斜率：0-10℃/min
控温精度：+1℃
测量频率：20Hz-30MHz
测量精度：0..05%
样品尺寸：直径＜20mm
测量环境：高温
测量夹具：块体


功能特性
通过阻抗测量C和D值，软件可以自动计算出介电常数和介电损耗随温度、时间、偏压、频率变化的曲线，还可以直接得出介电常数实部和虚部的比值。
通过阻抗测量Z和Φ值，软件可以自动计算出复阻抗随温度、时间、偏压、频率变化的曲线，还可以直接得出复阻抗Cole-Cole图。
通过测量Z和C，以及不同温度下的谐振频率和反谐振频率，再通过软件自动计算出机电耦合系数随温度、时间、频率变化的曲线，软件可以直接得出机械品质因数Qm。