EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无

损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发

效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析，在冶

炼过

程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平

最新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效

果更好

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围

自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

高信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

产品名称：X荧光光谱仪

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）

元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）

同时分析元素：一次性可测几十种元素

测量时间：30秒-200秒

探测器能量分辨率为：145±5eV

管压：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

测量对象状态：粉末、固体、液体

输入电压：AC 110V/220V

环境温度：15℃-30℃

环境湿度：35%-70%

样品腔体积：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

光路增强系统

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

可靠的整体钢架结构

90mm×70mm的状态显示液晶屏

真空泵

合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）