Versa 3D DualBeam

凭借多年的积累以及在 DualBeam、低真空及 ESEM; 方面取得的成功经验，FEI 推出了迄今为止功能最为丰富的 DualBeam 仪器。无论多么富有挑战性的样本，Versa 3D 都能依靠其一流的成像和分析能力提供更丰富的三维数据。

Versa 3D 拥有可灵活配置的平台，可使客户充分利用系统性能满足自身的特定需求。由于同时具有高真空和低真空模式，系统可灵活处理各类样本，包括无涂层和不导电样本。选配的 ESEM 模式能对自然水化物样本执行电子束成像，还支持使用额外的动态温度阶段执行原位分析和实验。

Versa 3D 的材料科学应用

研发新一代产品需要借助全新的材料科学工具和功能，以便为研究人员提供所需的表征数据，从而真正了解材料如何互相作用以及哪些特性对功能至关重要。这意味着要运用三维数据采集等技术充分了解材料特性。传统上，扫描电子显微镜 (SEM) 能满足大部分研究的需要，但要研发新一代材料，则既需要 SEM 也需要聚焦离子束 (FIB) 技术。在各类不同的 SEM/FIB 仪器中，Versa 3D 具有更为丰富的功能，能够满足高级材料分析需求，尤其是非导电材料和需要在自然状态下表征的样本。

如果您已经熟悉 SEM，不妨设想一下使用 DualBeam 技术和 Versa 3D 可以开展的众多其他应用。您可以在一个平台上获得更多功能，而且研究方案所受的限制也更少。

Versa 3D 的电子工业应用

您确切地知道自己希望样本拥有怎样的特性。借助精密制备技术，Versa 3D 可确保您获得所需的样本，并使得这一样本适合用于您打算采用的分析技术。无论采用 STEM、TEM、原子探针显微术、热台和拉力试验、EBSD 分析或亚表层特征测量中的哪一种分析，Versa 3D 都能将使用 FIB 所固有的位置特异性与易于使用的自动化软件例程结合起来，使您能够利用这个强大的平台，迅速且充满自信地获得最高质量的样本。自动化程序可最大限度减少错误，同时减少了样本制备时间，这样您就能用更少的时间，对精确制备的高质量样本开展更多的深入分析