EPMA-8050G是EPMA-1720(H)的升级产品，是EPMA业界的最新机型，可通过非破坏的方式，在高放大倍数下对各种电子器件的微观形貌进行观察，查找各种缺陷，并对其进行精准的成分分析，从而找到改进方案。

（1） 高空间分辨的二次电子像，分辨率高达3nm；
（2） 配备高质量分辨的背散射电子检测器，可以快速辅助查找分析区域。
（3） 配备成套的标准样品，可对材料进行精准的成分分析。
（4） 可对超轻元素（B~F）进行高精度的成分分析。

电子零部件、电路板、树脂及塑料零部件、小型零部件、电池的内部缺陷判断及测量