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TP200采用微应变片传感器，实现优异的测量重复性和精确的3D空间形状测量精度，即使配用长测针时也不例外。

传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件，确保了在数百万次触发中的可靠操作。

TP200系统组件包括：

1. TP200或TP200B测头本体（TP200B为另一款，允许更大振动公差）
2. TP200测针模块 — 选择固定越程测力：SF（标准测力）或LF（低测力）
3. 测头接口
4. 测针交换架

还有一种EO模块（扩展越程），越程测力与SF相同，但工作范围更大，并在测头Z轴方向提供保护。 

特点

1. 应变片技术具备优异的测量重复性和精确的3D空间形状测量精度
2. 零复位误差
3. 无各向同性影响
4. 六向测量能力
5. 测针测量距离达100 mm（GF测针）
6. 测头模块快速交换，无需重新标定测尖
7. 寿命 >1000万次触发