【简单介绍】
HIOKI 3506-10 电子仪器,日置 3506-10 C测试仪 上海代理
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
● 模拟测量时间0.6ms（1MHz）的高速测量
● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量
【详细说明】
HIOKI 3506-10 电子仪器,日置 3506-10 C测试仪 上海代理
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量
HIOKI 3506-10 电子仪器,日置 3506-10 C测试仪 上海代理
基本参数
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测量参数 |
C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
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测量范围 |
C:0.001fF～15.0000μF
D: 0.00001 ～ 1.99999
Q:0.0 ～ 19999.9 |
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基本精度 |
(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
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测量频率 |
1kHz, 1MHz |
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测量信号电平 |
500mV, 1V rms |
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输出电阻 |
1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) |
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显示 |
LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
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测量时间 |
1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz |
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功能 |
BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
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电源 |
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, zui大40VA |
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体积及重量 |
260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
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附件 |
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1 |
HIOKI 3506-10 电子仪器,日置3506-10 C测试仪 上海代理
