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KeysightB1505A功率器件分析仪曲线追踪仪使用手册
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深圳佳捷伦电子仪器有限公司
中国 深圳
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产品属性
图文详情
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品牌
Keysight是德
型号
B1505A
类型
半导体图示仪
测试电压范围
3000V
测试电流范围
1500A
扫频范围
350MHz
功率
400W
电源电压
2220
工作电流
350
集电极电压
20
基极电压
222
适用范围
5650
加工定制
否
外形尺寸
1000mm
重量
28kg
尺寸
14寸
KeysightB1505A功率器件分析仪曲线追踪仪使用手册
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深圳佳捷伦电子仪器有限公司
负责人:雷依婷/欧阳璋
手机:138-2659-6538/135-1050-0080
电话:0755-89519600
Q Q: 2355633972
全国免费热线800-900-9128
全国免长途通话费400-996-9128
地址:深圳市龙岗区平新北路163号广弘星座B栋12楼
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如需了解详细资料或购买、维修、租赁可加WeChat:Cgilent2018(雷依婷)
keysightB1505A功率器件分析仪曲线追踪仪使用手册
(高达1500A/10kV和+250°C)
现有设备能否应对关键性功率器件测试挑战?
测量功能缺陷
功率器件需要完整的工作范围表征,从毫微安或微伏到高达上千安培和数千伏特。并且,窄(微秒范围)脉冲
IV测量能力也十分重要,该功能可以防止器件自发热,进而避免测量失真。此外,在数千伏偏置条件下表征
栅极电阻(Rg)、栅极电荷(Qg)和连接电容需要功率器件开关速度表征功能。随着终端应用开关频率的持续升
高,这些参数的重要性日益凸显。然而,传统测量设备无法满足所有要求。
功率器件可靠性验证
许多功率器件的使用环境非常恶劣,或者用于关键应用,因此可靠性是非常重要的性能。在宽泛工作温度条
件下以及接近安全运行区域(SOA)的性能表征是确保可靠性的关键。然而,温度测试不仅耗时而且难度较大,
很容易因为使用外部温度舱和长电缆出现震荡问题。SOA测试通常需要宽动态范围的测试仪器,但此类仪器
使用繁琐且精度不足。
新器件(SiC、GaN、IGBT)表征挑战
碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)等全新宽带隙材料能够支持大电压和高切换速度,在新兴大功率应用领域具有广
阔前景。IGBT可以作为众多应用的电子开关,并且其重要性持续增加。在高电压直流偏置条件下(高达3 kV)
的高击穿电压(达10 kV)、大电流(数千安培)、栅极电荷以及连接电容表征和器件温度特征和GaN器件电流崩
溃效应测量功能都十分必要,是推动新器件尽快上市的重要保证。
缺乏曲线追踪仪硬件支持或特性增强
直到最近,曲线追踪仪一直是功率器件测试的实际标准工具。然而,传统曲线追踪仪无法支持当代功率器件
表征: 缺乏传输曲线或连接电容功能,不能生成满足宽度要求的短脉冲,并且精度不足。甚至,曲线追踪仪无
法实现便捷的PC兼容数据提取。
安全高效的封装器件测试
安全易用的测试夹具是测试封装功率器件的关键。但是,由于缺乏标准测试夹具,测试大功率器件须要定制
解决方案,多种封装方式的器件测量难度将大幅增加。并且,温度相关测试(功率器件评测的必要内容)无法
保证安全性和可靠性。
功率器件开发成本
由于无需提前封装器件,晶圆上探测能力可以显著节约时间和资金。然而,执行晶圆上功率器件测量十分困
难。支持晶圆上测量环境不仅需要大量的时间和成本,而且必须保证晶圆上测量环境的安全性。
Keysight B1505A可以满足最严苛的功率器件测试要求
综合解决方案能够实现精确且
轻松的功率器件测试与分析
B1505A 可以应对当今尖端功率器件带来
的测量挑战,是唯一能够精确测量和表征
亚皮安至高达10 kV和1500安的综合解决
方案: 支持3000 V直流偏置条件下的栅极
电荷与电容测量,以及 -50°C 至 +250°C
的温度测试。
除 了 上 述 出 色 的 测 量 功 能 , 直 观 的
EasyEXPERT 软件环境可以提供便捷的数
据分析。您可以方便地导出数据至 PC 环
境,进而应用数据生成演示和报告。
B1505A 支持 N1259A 和 N1265A 两个不
同电压和电流范围的标准化测试解决方
案。两款解决方案都可以兼容不同类型的
插座。B1505A 还支持功率器件晶圆上测
试,因此无需器件封装,可以显著缩减实
验室测试的周转时间(TAT)。
总之,上述特性与功能可以大幅提升功率
器件的评测效率,同时降低测试成本。
Keysight B1505A主要特性概述
– 宽工作范围与精密测量的组合
– 适合功率器件表征的综合解决方案,高达1500A/10kV
– 高电压偏置条件下的中电流测量(例如,1200V时的500mA测量)
– μΩ电阻测量能力
– 高电压偏置时精确的亚皮安级电流测量
– -50°C至+250°C范围安全、精确且快速的全自动温度测试
– 广泛的器件测量功能
– 高达3000V直流偏置条件下的全自动电容测量(Ciss、Coss、Crss 等)
– 低至10μs的大功率脉冲测量
– 封装器件和晶圆上IGBT/FET栅极电荷测量
– 高电压/大电流快速切换选件,适用于GaN电流崩塌效应表征
– 多达5个高电压(3kV)源/测量通道,可以最大限度地保证灵活性
– 借助支持互锁的测试夹具保证温度相关测试的安全性
– 改进的测量效率
– 无需重新布线即可切换高电压和大电流测量
– 自动测试封装和晶圆上器件晶体管连接电容 (Ciss、Coss、Crss、Cgs、Cgd、
Cds等)电路构造
– 支持互锁的标准测试夹具可以确保封装功率器件测试的安全性
– 支持高达200A和10kV的大功率晶圆上安全测试
– 示波器视图支持对应用电压和电流波形的验证
– MS Windows EasyEXPERT软件可以简化数据管理和数据分析流程
– 可升级和可扩展的硬件体系结构
– 丰富的测量模块选择
– 支持具有多达6引脚的大功率器件
备注:
我们的优势:
品种齐全,货源充足,存库雄厚,服务快捷,维修能力强。
欢迎来电!上门看货!价格好商量!您的满意是我们的追求!^_^
我公司对销售的仪器仪表均负责保修一年.
本公司长期供应/租赁/维修二手进口仪器
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