LDJD-B 型 GB/T 1409介电常数测试仪-B型 航天伟创

一、产品简介

             LDJD-B型介电常数及介质损耗测试仪又称介电常数测试仪、介质损耗测试仪等。GB/T 1409介电常数测试仪-B型 能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

二、适用标准

GB/T 1409-2006 《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法》（等效IEC 60250：1969）

GB/T 1693-2007 《硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》

三、主要参数

*1.信号源: DDS数字合成信号 10kHZ-70MHZ

*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数字

3．Q值测量范围：1～1023

4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

*5．电感测量范围：1nH～8.4H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

*6．电容直接测量范围：1pF～2.5uF                                      

*7．主电容调节范围：30～540pF                                        

8.准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信号源频率覆盖范围10kHz～70MHz                                         

10．合格指示预置功能范围：5～1000

11．环境温度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13.  S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

数显式微杆

平板电容器：

极片尺寸： 38mm

极片间距可调范围：≥15mm

夹具插头间距：25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

测微杆分辨率：0.001mm

测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

14. 电感组LKI-1：

分别由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。

15. 主机尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280

16. 重量约：7KG

四、产品特点

LDJD-B型介电常数及介质损耗测试仪是北京航天伟创设备科技有限公司新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率范围达10kHZ-70MHZ，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。LDJD-B主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。

LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪的电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。LJD-B特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。