操作高效便捷
创新的“EM Wizard”界面更加直观,仅需要“点击”即可得到的图像。
超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。
高性能电子光学系统
- 二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)*
- 高灵敏度: 高效PD-BSD, 超强的低加速电压性能,低至100 V成像
- 大束流(>200 nA): 便于高效微区分析
性能优异
- 压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配备高灵敏度低真空探测器(UVD)*
- 开仓室快速简单换样(最大样品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)
- 微区分析: EDS, WDS, EBSD等等
*:选配附件
项目内容
分辨率1.2 nm @ 30 kV 3.0 nm @ 1 kV 2.0 nm @ 1 kV 减速模式*1 3.0 nm @ 15 kV 低真空模式*2 |
放大倍率10 - 600,000× (底片倍率), 18 - 1,000,000× (800 × 600 像素) 30 - 1,500,000× (1,280 × 960 像素) |
电子光学系统电子枪| ZrO /W 肖特基式电子枪 |
加速电压| 0.5 - 30 kV (0.1 kV 步进) |
着陆电压| 减速模式: 0.1 - 2.0 kV *1 |
最大束流| > 200 nA |
探测器| 低位二次电子探测器 |
低真空模式*2| 真空范围: 10 - 300 Pa |
马达台马达台控制| 5 - 轴自动 (优中心) |
可动范围X:0~100mm Y:0~50mm Z:3~65mm T:-20~90° R:360° |
最大样品尺寸最大直径: 200 mm 最大高度: 80 mm |
选配探测器- 高分辨率顶位二次电子探测器*1
- 高灵敏度低真空探测器 (UVD)
- 5分割半导体探测器 (PD-BSD)*3
- 能谱仪 (EDS)
- 波谱仪 (WDS)
- 背散射电子衍射探测器 (EBSD)
|
*1:减速功能(包含高分辨率顶位二次电子探测器)*2:低真空功能(包含5分割半导体探测器)*3:空压机(本地采购)
样品: 氧化锌粉末
着陆电压: 1 kV ; 倍率: 120,000x
低电压下顶位二次电子探测器成像
样品: PTFE
加速电压: 3 kV ; 倍率: 13,000x
UVD探测器可在低加速电压(3 kV)和低真空
(40 Pa) 下获得高质量图像