DIATEST内径表式测量系统的特性是于手持,适用于大多数的孔径测量可大尺寸测量。可以使用内径千分尺或校对环规进行校准。量仪通过中心桥构造可以自动对正中心。
内径表式测量系统有标准和盲孔两种形式。

测头结构 |
| 量仪参数 |
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1:测头 | 测头形式:盲孔 |
2:延长杆 | 测量范围:38.5-115.0mm |
3:测砧 | 重复精度:0.001mm |
| 线性误差:0.006mm测量行程 |
| 测量深度:可达3m |
| 测点半径:8m |

特殊中心定位盘可以配合千分尺进行校准

多种尺寸的延长杆和测砧满足大量范围内的互换性

通过增加深度加长杆可测量深至3m处的直径

多种手柄选择,具有隔热功能避免手温影响测量结果