使用Keysight材料测量解决方案进行介电性能测量
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使用Keysight材料测量解决方案进行介电性能测量
测量方法
测量材料的介电性能有多种方法。用户需要选择zui适合MUT的测量方法。是德科技解
决方案支持所有的测量方法。
同轴探头法
同轴探头法zui适合液体和半固体 (粉末) 材料。它具有简单、方便、非破坏性的特点。
典型测量系统由网络分析仪或阻抗分析仪、同轴探头和软件构成。软件和探头均包含
在Keysight 85070E介电探头套件中。根据所用的分析仪和探头，该系统的支持频率范
围可从10MHz至50GHz。
高温探头能够承受-40至+200 °C的温度范围。较大直径的法兰使得高温探头可以支持
平面固体材料、液体和半固体材料测量。细长探头能够很轻松地放入发酵罐、化学反应
室或其它小孔径设备中。高性能探头的超薄设计使它具有出色的坚固性，耐高温性以及
很宽的频率范围。探头经过了热压处理，非常适合灭菌要求很高的食品、医药和化工行
业应用。
传输线法
传输线法是一种宽带测量方法，适用于可加工固体。它需要把 MUT 放入了闭合传输
线中。
自由空间法
自由空间法通过天线来把微波能量聚焦 ( 或穿过 ) 在一大块材料中。该方法具有非接触
特性，适合高温，尤其适用于毫米波频率。
谐振腔体法
谐振腔体具有较高的 Q 值，可在特定频率上发生谐振。放入材料样品后会改变谐振腔
体的中心频率和 Q 因数。通过测量放置材料和不放置材料时的谐振参数，可以计算得
到介电常数的值。是德科技提供85072A10GHz分裂圆柱腔体谐振器和分离介质谐振器
(SPDR)。
平行板电容法
平行板电容法在两个电极之间夹入一个薄板材料，来形成一个电容器。该方法zui适合对
薄膜或液体进行精que的低频测量。应用该方法的典型测量系统由 LCR 表或阻抗分析仪
构成。根据材料类型和频率范围(高达1GHz)要求，是德科技可以提供多种测试夹具，
例如16451B、16452A和 16543A。（佳捷伦出售出租WX~Cgilent2018/雷S）
电感测量法
该方法通过测量材料(环形磁芯)的电感来推导出磁导率。具体操作: 在MUT上缠绕若干
条导线，并测量导线两端的电感。Keysight 16454A磁性材料测试夹具可为单匝电感器
提供理想结构，在插入环形磁芯时不会出现磁漏。


备注：
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