高低温冷热冲击试验箱温度参数校准
1、条件:
设备:RK-TS2-150
环境温度:15~35 ℃.
相对湿度:不大于85%。
无影响高低温冷热冲击试验箱试验设备正常校准的外磁场、周围无强烈振动、无强烈气流直接吹到箱体上、无高浓度粉尘及腐蚀性物质。
如果校准用仪器设备规定了正常使用的环境条件,应符合其规定。
测量标准器及其他设备见表1。也可使用扩展不确定度(k=2) 满足技术要求的其他测量系统。当测量温度变化速率时,温度测量系统的响应时间应小于5S。

2、校准项目
高低温冷热冲击试验箱试验设备主要校验项目有:外观检查、温度偏差、温度均匀度、温度波动度和温度变化速率。
3、校准方法
温度偏差、温度均匀度和温度波动度可以同时进行校准。
3.1、高、低温度点的选择
根据客户要求选择能保持试验要求的实际常用高、低温度点。
3.2、温度变化速率的选择
高低温冷热冲击试验箱根据客户或工艺要求选择能满足试验要求的从低温到高温或从高温到低温的变化速率。
3.3、温度 测量点数量和位置的选择
根据试验设备试验箱容积的大小,将工作空间分为上、中、下三个平面,中层通过工作空间几何中心点。将一定数量的温度传感器放置在试验箱三个平面规定的位置上,传感器不应受到冷热源的直接辐射,测量点分布如图1和图2所示。


如图1和图2所示,测量点分布位于上、中、下层;温度测量点用英文字母O、A、B、C、D、E、F、G、H、I、J、K、L、M、N表示;测量点0为试验设备试验箱工作空间几何中心点,其他各测量点的位置与设备内壁的距离为试验箱各边长的1/10 (遇到风道时, 指与送风口和回风口的距离),但最大距离不大于500 mm,最小距离不小于50mm,如果试验箱带有样品架时,下层测量点可布置在样品架上方10mm处;当试验箱容积小于0.05 m3或大于50 m3时,可适当减少或增加测量点。 温度变化速率的测量点位置规定为试验设备试验箱工作空间几何中心点。
3.4、校准步骤
校准通常在空载状态下进行,校准前将温度传感器测量端固定在图1或图2的各个测温点位置上,做好标记。然后将温度传感器另一端引出试验箱,依标记序号通过转换开关分别与测量仪器连接。关闭箱门,通电运行,将试验设备的温度控制器调节到所要求的标称温度上。
使试验设备降温或升温,设备进入控温状态稳定30 min后(稳定时间最长不超过2 h),开始记录各测温点的温度和设备指示温度,每隔1 min记录1次,记录不少于8次。然后调节设备到另一个要求的温度,记录中心点的温度从温度范围10%上升(下降)到90%10%)所需的时间。若想测得每5min温度平均变化速率,则按要求的变化速率使试验设备升温或降温至另一要求温度,在升降温过程中,每1 min测量1次中心点的温度。