透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。
性能指标
透射电镜指标：
● 兼容指定电镜型号及极靴
● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）
● 保证透射电镜原有分辨率。
电学测量指标：
● 包含一个电流电压测试单元
● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程
● 电流分辨率：优于100 fA
● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V
● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存
扫描探针操纵指标：
● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm
● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um
● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm
低温参数指标：
● 兼容指定型号透射电镜及极靴
● 全温区结构分辨率优于0.2 nm
● 变温范围为85 K-380 K，温度稳定性优于±0.1 K
产品特色
（1）温度连续可控，稳定性高
（2）低温下可实现对样品施加应力及电学研究
以上就是北京麦迪森科技有限公司提供的透射电镜原位TEM样品杆-STM-TEM低温电学测量系统，详细咨询电话：15301310116
北京麦迪森科技有限公司是一家资力深的真空、光电、测试系统创新科技型企业，为科研用户和企业提供高性能产品及专业的测试系统集成方案，长期与该领域知名的国内外制造商密切合作，共同解决用户的技术难题。
我们的产品主要包含真空、光学、测试系统三大类。真空类产品涵盖各种真空泵、真空腔体、真空法兰、真空阀门、真空接头及相关附件。光学类产品涵盖光谱仪、激光器、光学支架、减震台、高精度位移台、光学镜片等相关附件。测试系统涵盖电阻率测试系统、霍尔测试系统、半导体性能测试系统、磁光测试系统、变温光电测试系统及相关的测试仪表。
我们的产品应用范围涉及航空航天、半导体、LED、太阳能等领域，用户覆盖中科院、清华、北大、中科大等各大院校，凭借优质的产品、专业的服务、负责的态度，得到用户的广泛认可。
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