Agrade DQ35 44PIN iDOM
* 高可靠性
* 符合PATA&IDE (ATA)接口规范
* 重复循环檫写次数：SLC(100000) MLC(6000)
* 主从盘转换开关
* 损耗平衡功能(Wear leveling)和错误检查纠正技术(ECC)
产品名称 | iDiskOnModule (DOM) |
系列 | Reliable Series |
型号 | DQ35 |
容量 | SLC：128M~16GB
MLC：4GB~256GB |
特征 | * 高可靠性
* 符合PATA&IDE (ATA)接口规范
* 重复循环檫写次数：SLC(60000) MLC(6000)
* 主从盘转换开关
* 先进的损耗平衡功能(Wear leveling)和错误检查纠正技术(ECC) |
冲击/震动 | 1500/20 |
MTBF(h) | 2,000,000 |
工作电压 | 5.0V |
工作温度 | 常温：0℃~70 ℃ 宽温：-40 ℃~85 ℃ |
存储温度 | -55℃ ~95℃ |
最大读写速度 | 读取速度：111.6MB/S 写入速度：61.8M/S |
外形尺寸 | 48.4mm(L)×27.3mm(W)×5.8mm(H) |
选购说明
Agrade工业级 IDE DOM (Disk-On-Module 固态硬盘模组)，是非常可靠和耐用的快闪存储产品，产品采用高品质的NAND，适合需要数据完整和正常运作时间的应用，IDE DOM 的外观形状尺寸，可以直接与40-pin 或 44-pin 的母板IDE连接器连接。
Agrade 提供多款 IDE DOM 结构，以满足不同应用的需要，如应用对温度范围有特别要求，可以选择支持 -40C 至 +85C 的宽温产品
Agrade DQ35 44PIN iDOM* 高可靠性
* 符合PATA&IDE (ATA)接口规范
* 重复循环檫写次数：SLC(100000) MLC(6000)
* 主从盘转换开关
* 损耗平衡功能(Wear leveling)和错误检查纠正技术(ECC)
