经济实用型光学检测仪离线AOI ZW685
产品描述:
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- 经济实用型光学检测仪。
- CCD高速彩色摄像机。
- 快捷的编程及调试,操作更加方便。
- PCB板正反面自动识别,使测试更加高效快捷。
- 大理石平台设计,使设备精密度更高,运行更平稳。
多功能 高精度 高效率
ZW-685技术性能描述
类别 | 项目 | 规格参数 |
光学系统 | 判别方法 | 结合权值成像数据差异分析技术、彩色图像对比、颜色提取分析技术、相似性、二值化、OCR/OCV、通路测试等多种算法 |
摄像机 | 千兆网彩色高速相机 |
分辨率 | 10/15/20微米/点(可选)标配25微米/点(对应FOV:20毫米*20毫米) |
光源系统 | RGB环形多角度LED结构光源 |
光源控制系统 | 数字式恒流控制器 |
图像处理速度 | 0201元件 | <10毫米 |
每画面处理时间 | <170毫米 |
检测内容 | 锡膏印刷 | 有无、偏斜、少锡多锡、断路、污染 |
| 零点缺陷 | 缺件、偏移、歪斜、立碑、侧立、翻件、极性反、错件、破损 |
| 焊点缺陷 | 锡多、锡少、连锡 |
机械系统 | PCB尺寸 | 30×30毫米~450×330毫米(可根据客户要求定制更大尺寸) |
PCB厚度 | 0.5毫米~2.5毫米 |
PCB翘曲度 | ≤2毫米(有夹具辅助矫正变形)可消除PCB变形影响(特殊要求可定制) |
零件高度 | 上净高≤35mm下净高≤70mm(特殊要求可定制) |
最小零件 | 0201元件 |
X、Y平台 | 驱动设备 | 交流伺服电机系统 |
定位精确 | <15微米 |
移动速度 | 700毫米/秒(Max) |
Y大理石平台 | 定位精确≤6微米 |
软件系统 | 操作系统 | Microsoft Windows XP Professional |
识别控制系统 | 特点 | 应用权值图像差异建模技术和独特的颜色提取分析技术,学习OK样品,自动建立标准图像、识别数据及误差阀值 |
操作 | 图形化编程,自带元件库,根据元件形状选择标准自动生成检测框,精确自动定位,微米位微调,制程快捷 |
Mark | 点数 | 可选择2个常用的Mark点或多个Mark点使用 |
识别速度 | 0.5秒/个 |
控制系统 | 电脑主机 | Intel双核CPU,4G DDR内存,120G固态硬盘 |
显示 | 22英寸液晶宽屏显示器 |
其它参数 | 机械外形尺寸 | 90厘米×110厘米×135厘米(高度含地脚) |
重量 | 约450公斤 |
电源 | 交流220伏特±10%,频率50/60HZ,额定功率600W |
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专为国内许多小批量、多机种的制造厂商开发的离线式AOI。进口的丝杆导轨实现最高的精度,3CCD彩色相机准确识别各部件的颜色变化,完全0201的检测能力,符合CE标准和人性化的机械设计,超大抽拉式操作托盘,可供操作人员置放PCB等物品,位于中间的LCD显示器可保护操作人员视力,集中的电路系统打开外罩便一目了然,方便维护保养,自动张开的双边夹具大大提高了使用效果,自动感应安全光幕和自动开启的翻板让设备使用更安全。
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