金相晶粒度测定方法太过笼统，当拿到一个具体的微观照片，我们该怎么下手呢？晶粒度评定快速上手，一学就会，下面我们来演示一下具体操作和计算方法。

 1、确定照片的放大倍数

先测量显微照片的尺寸，长度或宽度选择其一，然后测量出试样的实际长度或者宽度，放大率=图片距离/实际距离。

 2、找出晶粒度级别数

 计算出放大率之后就可以确定晶粒度级别数了。首先要计算出试样中的晶粒数。晶粒数=完整的晶粒数 0.5倍的部分晶粒数。完整晶粒的晶界都是可观察到的。其次是计算出实际面积，实际面积=图片长/放大率×宽/放大率。根据ASTM标准中的计算公式：N=2(n-1)其中N指放大100倍下每平方英寸的粒数，n指晶粒级别数。进行单位换算之后可得到N的指。最后可计算出晶粒级别n。

 3、计算平均晶粒直径

 平均晶粒直径=试样的实际长度/截取部分的晶粒数

实际长度=截线长度/放大率

晶粒度表示晶粒尺寸大小的尺度。金属的晶粒大小对金属的许多性能有很大的影响。晶粒度的影响，实质是晶界面积大小的影响。晶粒越细小则晶界面积越大，对性能的影响也越大。对金属的常温力学性能来说，一般是晶粒越细小，则强度和硬度越高，同时塑性和韧性也越好。

   测定平均晶粒度有三种基本方法：比较法、面积法、截点法。

具体如下：

 1、比较法：比较法不需要计算晶粒、截距。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度一般存在一定的偏差（±0.5级）。评估值的重现性与再现性通常为±1级。

 2、面积法：面积法是计算已知面积内的晶粒个数，利用单位面积晶粒数来确定晶粒度级别数。该方法的精确度在于计算晶粒度的函数，通过合理计数可实现±0.25级的精确度。面积法的测定结果是无偏差的，重现性小于±0.5级。面积法的晶粒度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数

3、截点法：截点数是计算已知长度的试验线段（或网格）与晶粒界面相交截部分的截点数，利用单位长度截点数来确定晶粒度级别数。截点法的精确度在于计算截点数和截距的函数，通过有效的统计结果可达到±0.25级的精确度。截点法的测量结果是无偏差的，重现性和再现性小于±0.5级。对于同一精度水平，截点法由于不需要精确标记截点和截距数，因而较面积法测量快。