日立X-Strata920X射线荧光镀层测厚仪
日立X-Strata920使用X射线荧光(XRF)进行的镀层厚度测量是经过证明的快速的无损分析技术，X-Strata920设计为面向电子产品和金属表面 处理，测量单层和多镀层(包括合金层)，应用专家对 X-Strata920 进行了进一步升级， 确保获得可靠、可重复结果，满足数百种应用，包括 PCB 表面处理、连接器镀层、耐腐蚀处理、装饰表面 处理、耐磨损处理、耐高温处理等。
X-Strata920X这一出色的工具可确保样品符合规格，同时通过避免过度电镀和返工来降低成本。操作员只需加载样品，将其定位在屏幕上的目标下方，使用激光焦点对齐，即可开始测量。结果在几秒内即可显示出来，然后操作员可快速执行下一个任务。得益于通过可追溯标准打造的优化校准方式，您将对结果的准确性充满信心。日本日立提供多种镀层厚度解决方案EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata920）
使用X-Strata920可遵从各种行业规范，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。
日本日立（主营EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、X-Strata920、FT160、FT160s、FT160L）公司汇聚能散型荧光X射线分析仪的新时技术，成功地开发了可简单快速的测定有害物质的专用机型EA1000AⅢ。由于搭载无液氮检出器，EA1000AⅢ HS可在任何条件下，简单，快捷地完成高于RoHS和卤素规定的高精度测定。
EA1000AⅢ搭载无液氮检出器，在任何的生产，质检现场都可实现简单的测定。大大提高了镉(Cd)等元素的检出下限。检出下限可至ppm级，，均能测定卤素。拥有补正功能可以对各种形状、厚度、面积的合成树脂的测定进行补偿，得到准确的结果。定数据可输出至Microsoft Word Excel软件，EA1000AⅢ轻松的完成书面报告。
