本溪饲料厂汽车衡销售上门安装汽车衡分类

一、从电气部分分为数字式电子汽车衡和模拟式电子汽车衡， 为了将误差降低到，电阻仿真模块应当有一个小的热电动势，并且使用误差较低的电流进行测量，以10mA的电流重复上述测量时可将误差降低到0.1%。使用四线制测量系统没有帮助，尽管它消除了引线电阻的影响。或者，如果热电动势的数据没有明显的时变时，你可以通过翻转DMM的极性并取两个读数的平均值来测量它们的影响。这样可以确认真正的阻值是多少，在应用电路中可能不会这样做，但是用户应该了解。一些DMM在测量电阻时具有测量电压偏移的功能，这个可以用来补偿电阻测量，而不必逆转电流极性。

数字式汽车衡信号传输使用数字信号，每个传感器即为一台具备独立IP地址的秤，综合各传感器的称重结果，计算出总的重量。优点为出厂免标定、传输距离远（可达1000M）,调整角差可在仪表上直接操作等，智能化程度较高。

模拟汽车衡信号传输使用电信号，通过传感器中电阻应变片的形变后阻值改变，根据电流强弱进行称重。主要优点是易维护、可靠性好、抗雷击能力较强。

二、从台面分为普通汽车衡、短台面汽车衡、便携汽车衡 半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

普通汽车衡为常用形式，不做过多介绍，优选型号如下(图)

短台面汽车衡通过轴计量方式，通过对每个汽车的轮胎的称重，组合计量出整车重量，优点是台面较小，降低成本、土建比较容易。缺点是称重复杂、效率低。多用于少量称重场合。

便携式汽车衡近似于短台面汽车衡，但由于体积原因，使用了普通应变片的形式，误差较大，多用于公路治超。