闪点测试仪 全自动闪点仪器 闭口闪点测定仪工作原理 IT76电压可达3V/6V/12V，频率范围1-5Hz。测试时，可步进增大或减小电压或者频率，此时观察DC输出端电压是否跌落至保护。电压短时中断测试，输入电压或频率的瞬变GJB181A-23中针对这一项内容主要是针对交流用电设备在交流电出现瞬间跌落或异常波动的情况下的运行特性。IT76系列具备仿真交流电压与直流偏移电压的功能，可以模拟任意波形输出，同时也可以仿真IEC61-4-11标准针对电压突降，短路中断和电压变化规定项目做测试。
HN7502A开口闪点全自动测定仪
用来测定石油产品的开口闪点值、燃点值。仪器采用电点火方式，无需任何可燃性气体，符合ASTMD92（GB3536-2008）、GB267-88的方法要求。采用ARM系列高性能微处理器，电擦除存储器（可存储上千条数据记录），彩色液晶显示器及触摸屏，PID自整定等多项技术。使仪有以下特点：
功能。可一机两用同时检测闪点、燃点，并打印测试结果，内部具有时钟芯片，自动显示当前日期、时间、掉电保持。
度高。温度误差控制在±1.5℃内，分辨率为0.1℃。
重复性好。在保证测试环境符合GB3536(ASTM D92)或GB/T 267-88的情况下，连续测试同一样品，两者闪点值相差≤4℃。
自动化程度高。可以自动完成测试过程，自动进行冷却，自动信息提示等。
开口闪点测定仪功能与性能和水平接轨，是石油、电力、化工、商检等行业替代进口产品的仪器。
二、技术参数
测定范围：40℃~400℃
检测类型：开口闪点或燃点
温度检测：铂电阻
准 确 度：±1℃
重 复 性：符合GB3536-2008(ASTM D92)、GB/T 267-88
显 示 器： 彩色液晶显示器
信息存储：可存储1000个测定结果
点火方式：电点火
冷却方式：制风冷
打 印 机：点阵式热敏打印机
自检功能：升降杆、划扫杆、打印等
功 率：≤600VA
使用电源：交流220V±11V，频率50Hz±2.5Hz
环境温度：10~35℃
环境湿度：≤85%
重 量：约17kg
三、工作原理
该仪器按照GB/T3536-2008(ASTMD92）、GB/T 267-88方法规定的升温曲线，由CPU控制加热器对样品加热彩色LCD显示器显示状态、温度、设定值等，在样品温度接近闪点值时，CPU控制电点火系统自动点火自动划扫。在出现闪点时仪器自动锁定闪点值。同时，自动停止加热并对加热器进行风冷。
四、使用方法
（一）安装环境
开口闪点自动测定仪应安装在不受日光直接照射、无空气对流的工作台上。（放在通风橱内，做样时不能开风机）。
（二）电源
仪器使用220V、50Hz单相交流电源，电压波动不应大于5%。也可使用电子交流稳压器（1000W）。
（三）仪器使用
1、接通电源后,仪器升降杆部分自动抬起,并有提示音, 显示仪器名称及版本号。
2、屏幕任意位置，显示测试界面：
“开始”，升降杆落下，开始测试；“终止”，停止试验，升降杆升起。“试验条件”处显示测试的设定条件，包括预期闪点、打印机开关设置、试验所适用的标准等。“试验信息”处显示试验的进程信息。
在试验界面中，“自检”、“设定”、“条件”、“记录”等按钮，可进入相应的功能界面。
3、自检界面
该界面下可以对仪器的各部件执行自检操作。
“升降杆”， 升降杆组件升起；再次，升降杆组件落下。“点火器”，点亮点火器；再次，熄灭点火器。“风机”，启动风机；再次，关闭风机。“划扫杆”，启动划扫杆向对面划扫，停止后，再次“划扫杆”，划扫杆回到起始位置。“打印”，启动打印机打印自检，用以验证打印机是否工作正常（打印数据中试验结果此时为随机数）。 执行各部件自检过程中，其下方会显示相应的自检状态信息。
4、设定界面
该界面下可以设定预计闪点值与大气压值：“预计闪点”或“大气压”后的“更改”，进入预计闪点或气压设定界面：
（1） 预计闪点设定
该界面下，“设定值”区域，键盘上方预计闪点设定值输入框处光标闪烁，可以输入数字，并按“←|”确认输入。要删除输入的数字，可以“←”。界面右侧“退出”图标，退出预计闪点设定界面。
（2） 大气压设定
测试所在地区的大气压值不同，会导致测试试样的开口闪点值不同，为校正到标准大气压下的准确值，需要根据实际气压值做设定。操作方法参见“预计闪点设定”。
气象色谱仪是一种常用的分析仪器，被广发用于化工、生物化学、医药卫生等领域中。气象色谱仪与其他仪器一样在使用中会产生一定的故障问题，对于用户的使用会造成影响。本文着重介绍了气象色谱仪在使用过程中产生的一些典型问题以及解决问题的方法。进样后不出色谱峰的故障气相色谱仪在进样后检测信号没有变化，仪不出峰，输出仍为直线。遇到这种情况时，应按从样品进样针、进样口到检测器的顺序逐一检查。检查器是否堵塞，如果没有问题。LED研发一LED光源半导体芯片发热利用热像仪，工程师可以根据得到的光源半导体芯片发热红外热图，分析出其芯片在工作时的温度，以及温度的分布情况，在此基础，达到提高LED产品寿命的目的。二LED模块驱动电路在LED产品研发中，需要工程师进行一部分驱动电路设计，整流器电路模块。利用红外热像仪，工程师可以迅速而便捷地发现电路上温度异常之处，便于完善电路设计。三光衰试验LED产品的光衰是光在传输中的信号减弱，而现阶段的LED大厂们做出的LED产品光衰程度都不相同，大功率LED同样存在光衰，这和温度有着直接的关系，主要是由晶片、荧光粉和封装技术决定的。
