远见闭口闪点仪 闪点仪的测试原理 自动开口闪点测定仪 换流变压器及滤波装置是直流输电系统中的重大技术装备。传统的换流变压器及滤波方案虽然广泛应用，但并不完善。传统滤波方案将滤波器安装于交流母线与换流变压器网侧绕组之间。这使得由换流器产生的谐波电流和无功电流均要通过变压器的网侧、阀侧绕组。这必然会在铁心和结构件中通过较的谐波磁通，使得变压器绝缘度加大，损耗增加，振动和噪声大。针对上述问题，本文提出了一种新型换流变压器及其滤波系统，它是利用电磁感应原理在副边绕组间实现谐波磁势平衡的谐波新方法，称之为感应滤波；分析了该滤波新方法的谐波机理；在此基础上，对在建的新型直流输电系统平台的阀侧滤波器进行综合设计。

HN7502A开口闪点全自动测定仪

    用来测定石油产品的开口闪点值、燃点值。仪器采用电点火方式，无需任何可燃性气体，符合ASTMD92（GB3536-2008）、GB267-88的方法要求。采用ARM系列高性能微处理器，电擦除存储器（可存储上千条数据记录），彩色液晶显示器及触摸屏，PID自整定等多项技术。使仪有以下特点：
功能。可一机两用同时检测闪点、燃点，并打印测试结果，内部具有时钟芯片，自动显示当前日期、时间、掉电保持。
度高。温度误差控制在±1.5℃内，分辨率为0.1℃。
重复性好。在保证测试环境符合GB3536(ASTM D92)或GB/T 267-88的情况下，连续测试同一样品，两者闪点值相差≤4℃。
自动化程度高。可以自动完成测试过程，自动进行冷却，自动信息提示等。
开口闪点测定仪功能与性能和水平接轨，是石油、电力、化工、商检等行业替代进口产品的仪器。

二、技术参数
测定范围：40℃~400℃
检测类型：开口闪点或燃点
温度检测：铂电阻
准 确 度：±1℃
重 复 性：符合GB3536-2008(ASTM D92)、GB/T 267-88
显 示 器： 彩色液晶显示器
信息存储：可存储1000个测定结果
点火方式：电点火
冷却方式：制风冷
打 印 机：点阵式热敏打印机
自检功能：升降杆、划扫杆、打印等
功    率：≤600VA
使用电源：交流220V±11V，频率50Hz±2.5Hz
环境温度：10~35℃
环境湿度：≤85%
重    量：约17kg

三、工作原理
该仪器按照GB/T3536-2008(ASTMD92）、GB/T 267-88方法规定的升温曲线，由CPU控制加热器对样品加热彩色LCD显示器显示状态、温度、设定值等，在样品温度接近闪点值时，CPU控制电点火系统自动点火自动划扫。在出现闪点时仪器自动锁定闪点值。同时，自动停止加热并对加热器进行风冷。
四、使用方法
（一）安装环境
开口闪点自动测定仪应安装在不受日光直接照射、无空气对流的工作台上。（放在通风橱内，做样时不能开风机）。
（二）电源
仪器使用220V、50Hz单相交流电源，电压波动不应大于5%。也可使用电子交流稳压器（1000W）。
（三）仪器使用
1、接通电源后,仪器升降杆部分自动抬起,并有提示音, 显示仪器名称及版本号。
2、屏幕任意位置，显示测试界面：
“开始”，升降杆落下，开始测试；“终止”，停止试验，升降杆升起。“试验条件”处显示测试的设定条件，包括预期闪点、打印机开关设置、试验所适用的标准等。“试验信息”处显示试验的进程信息。
在试验界面中，“自检”、“设定”、“条件”、“记录”等按钮，可进入相应的功能界面。
3、自检界面 
该界面下可以对仪器的各部件执行自检操作。
“升降杆”， 升降杆组件升起；再次，升降杆组件落下。“点火器”，点亮点火器；再次，熄灭点火器。“风机”，启动风机；再次，关闭风机。“划扫杆”，启动划扫杆向对面划扫，停止后，再次“划扫杆”，划扫杆回到起始位置。“打印”，启动打印机打印自检，用以验证打印机是否工作正常（打印数据中试验结果此时为随机数）。 执行各部件自检过程中，其下方会显示相应的自检状态信息。
4、设定界面
该界面下可以设定预计闪点值与大气压值：“预计闪点”或“大气压”后的“更改”，进入预计闪点或气压设定界面：
（1） 预计闪点设定
该界面下，“设定值”区域，键盘上方预计闪点设定值输入框处光标闪烁，可以输入数字，并按“←|”确认输入。要删除输入的数字，可以“←”。界面右侧“退出”图标，退出预计闪点设定界面。
（2） 大气压设定
测试所在地区的大气压值不同，会导致测试试样的开口闪点值不同，为校正到标准大气压下的准确值，需要根据实际气压值做设定。操作方法参见“预计闪点设定”。
提高开关密度和可扩展性对开发大型汽车发动机和航天HIL测试系统至关重要。”MikeDewey,directorofmarketingatMarvinTestSolutions：“总体而言，我们看到高密度交换系统正继续向像MACPanelSCOUT的无电缆界面转移。高密度开关切换系统需要高密度的I/O，从电缆接口转移到无电缆接口以确保足够的性能并提供可靠的接口。客户要求的通道数越来越多，也要求供应商寻找更小体积的继电器，以及识别更高密度的I/O连接，这对3U形式的PXI来说是一个特别的挑战。研发者尝试着减少热切换的影响，但是事实上，很多测试由于时间方面的限制，是需要进行热切换的，这样可以防止在测试的过程中系统的重新启动或者是确保可以模拟间歇性的故障。热切换是研发者避免不了的。其实测试系统中很多的故障不是由于继电器的正常寿命已经到了而引起，一些故障是在生产的阶段无法进行检测而引起的。很多的故障是在测试系统中的一些意外的情况而引起的。一个经常发生的情况是系统的集成而引起的，由于不该连接的地方连接，如与电源之间的短路或者是在电容性的负载上进行热切换，从而引起的布线和软件方面的故障，从而影响到继电器。