同惠TH2826高频LCR数字电桥，LCR测试仪TH2826C
同惠TH2826高频LCR数字电桥，LCR测试仪TH2826C
是符合 LXI 标准的新一代阻抗测试仪器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz 的频率范围可以满足元件与材料的测量要求，可测量低 ESR 电容器和高 Q 电感器的测量。可用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析。
是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试强有力的工具。其超 高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等 等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。TH2826 系列产品 以其卓越的性能可以实现商业标准和军用标准如 IEC 和 MIL 标准的各种测试。
TH2826高频LCR数字电桥，LCR测试仪TH2826C性能特点
TH2826测试频率: 20Hz~ 5MHz,分辨率: 10mHz步进
TH2826C测试频率: 20Hz~ 2MHz,分辨率: 10mHz步进
基本精度: 0.1%
测试速度: 200次/s
压电陶瓷、超声波换能器等器件的阻抗分析
具有多参数多频列表扫描功能
测试电平10mV~5V, 1mV步 进
320 X 240点阵大型图形LCD显示
五位读数分辨率
可测量22种阻抗参数组合
四种信号源输出阻抗
10点列表扫描测试功能
内部自带直流偏置源
外置偏流源至40A(选件)
电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
V、I测试信号电平监视功能
图形扫描分析功能
20组内部仪器设定可供储存/读取
内建比较器，10档分选及计数功能
多种通讯接口方便用户联机使用
2m/ 4m测试电缆扩展(选件)
中英文可选操作界面
可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
TH2826高频LCR数字电桥，LCR测试仪TH2826C技术参数
测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
测试频率 | TH2826 | 20 Hz～5MHz,10mHz步进 |
测试信号电平 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) | |
输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本准确度 | 0.1% | |
显示范围
| L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH |
C | 0.0001 pF ～ 9.9999F | |
R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ | |
Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S | |
D | 0.0001 ～ 9.9999 | |
Q | 0.0001 ～ 99999 | |
θ | -179.99°～ 179.99° | |
测量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 | |
等效方式 | 串联方式, 并联方式 | |
量程方式 | 自动, 保持 | |
显示方式 | 直读, Δ, Δ% | |
触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 | |
内部直流偏 | 电压模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 | 电流模式（内阻为50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功能 | 10档分选及计数功能 | |
显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 | |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
接口 | USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | |
USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | ||
LAN(LXI class C support) | ||
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB（选件） | ||
| 标配 | |||||
| 配件名称 | 型号 | ||||
| 夹具 | TH26048 | ||||
| 短路片 | TH26010 | ||||
| 带盒四端绝缘带锁Kelvin测试线 | TH26011BS | ||||
应用
■ 无源元件
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析
■ 半导体元件
LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
■ 介质材料
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
■ 液晶单元
介电常数、弹性常数等C-V特性
