多功能焊接强度测试仪T
EST4500推拉力测试机
一、TEST系列推拉力测试机
技术参数对标进口设备,以综合测试、稳定的特点赢的海内外客户的信任。
高清三目显微镜配CCD,可以在PC显示屏上观看测试过程及结果;
校准采用国标砝码校准方法,校准数据可于第三方检测;
耗材钩针采用钨钢材料制作而成,材质好,耐用性强;
采用自主研发软件,自带M,E,S、CPK、校正、重复性测试功能
每个传感器模组都采用单独智能防呆滞的防触底/碰撞过力保护功能,触底时自动停止并弹窗提醒。

二,推拉力测试机技术优势:
1,独立自主研发
多年半导体行业工作经历的研发团队,以客户需求为导向。
2,测试传感器自动更换
只用在软件上对测试工作位进行选项后,设备自动旋转至选择工作位。
3,高精度动态采集系统
公司自主研发高精度数据采集系统,将传感器与数据采集结合,测试数据更加综合测试。
4,高精密动态传感系统
采用独特的高精度动态传感系统与高速数据采集系统结合,给客户带来更好的测试视觉体验。
5,人性化的软件设计
可根据测试需求自由编缉测试方式,推力测试,拉力测试,下压力测试等。
6,防呆滞保护措施
自主研发的防呆滞的智能保护措施,防止因人员误操作对设备进行损伤。

三、推拉力测试机技术参数
序号 | 项目名称 | 规格 | 备注 |
1 | 型号 | TEST4500 | |
2 | 精度 | 传感器精度±0.05% ,综合测试精度±0.1% | |
3 | 金线拉力测试 | WP量程100g ;满足100g以下焊线拉力测试 | ①根据产品需求,配置不同传感器模组; ②支持定制量程: 推力0-50kg、拉力0-20kg |
4 | 金球推力测试 | B S量程250g ;满足250g以下焊球推力测试 | |
5 | 晶片推力测试 | D S量程10kg ;满足10kg以下晶片推力测试 | |
6 | XY工作台 | 行程:80mm;分辩率:0.002mm | 支持定制行程: XY轴行程:0-200mm、Z轴行程:0-100mm |
7 | Z工作台 | 行程:80mm;分辩率:0.001mm | |
8 | 传感器模组 | 拉力模组X1、金球推力模组X1、晶片推力模组X1 | 选择自动切换测试模组 |
9 | 平台夹具 | 根据产品定制 X1;夹具可360°旋转 | 平台可通用各种夹具 |
10 | 耗材 | 金线钩针X2、金球推针X2、晶片耗材X2 | 根据实际测试需求配置 |
11 | 显微镜 | 90X高清三目影像显微镜 | 配CCD |
12 | 摇杆 | 左摇杆模组/R232、右摇杆模组/R485 | 带紧急停止功能和小键盘 |
13 | 电脑系统 | 标配Win10系统PC带显示屏 | 双显示屏 |
14 | 气压 | 0.4-0.6Mpa | |
15 | 电源 | 220V±5% | |
16 | 功率 | 300W(max) | |
17 | 尺寸 | 长:600mm * 宽:480mm * 高:720mm | |
18 | 重量 | 80kg | |
19 | 设备优势 | ①、旋转式模组:旋转盘内置三个不同量程测试传感器模组,满足不同测试需求,在软件上点击切换, 5S内即可自动切换至测试工位,无需人为干扰。 ②、主机采用德国多维力精密传感技术,采用进口元器件,确保测试精度。 ③、采用:ART自动旋转技术、VPT垂直定位技术、VTT垂直牵引技术、24Bit动态采集系统。 ④、智能LED灯光系统:LED照明光源亮度可自由调节,减少对测试人员眼睛损伤。 ⑤、高清三目显微镜配CCD,可以在PC显示屏上观看测试过程及结果。 ⑥、自动化测试:点击测试按钮,设备自动测试,无须人为干预,避免人为操作引起的数据偏差, 确保数据准确性。 |
20 | 软件优势 | ①、自主研发软件,全屏中文显示(出口支持英文显示),支持测试功能定制;自带重复性测试、校正功能, 采用国标砝码校正方法。 ②、产品参数、测试参数可调;可存储多种测试参数程序:针对不同型号产品,点击即可调用程序直接 进行下一项产品测试;有效地减少手工输入参数的繁琐性,提升了测试效率;简单、方便、快捷。 ③、自带CPK、MES、曲线、Excel表格数据导出;SPC数据管理功能,软件终身免费升级。 ④、智能防呆滞:每项传感器采用独立的智能防呆滞/碰撞过力保护功能,触底时自动停止并弹窗提醒。 ⑤、限速功能:在推针/钩针在下降到一定高度时,可以安全平缓地软着陆降到测试位置。 ⑥、设备与电脑连接,测试数据在电脑上以波形图、数字显示,可实时导出、保存数据10万组。 |

四、推拉力测试机应用领域:
推拉力测试机应用领域| 内引线拉力测试 | 微焊点推力测试 | 芯片剪切力测试 | SMT焊接元件推力测试 | BGA矩阵整体推力测试 |
| ic封装测试 | 光电子器件封装测试 | pcba电子组装测试 | LED封装测试 | 微电子封装测试 |
| LED推拉力测试 | 半导体封装测试 | 金球芯片推力测试 | 推拉力测试 | 金线拉力测试 |
| 芯片推力测试 | 金球推力测试 | 半导体推力测试 | 手机摄像头推力测试 | 光纤拉力测试 |