半导体特性曲线图示仪！适用于二极管，晶体管 IGBT，场效应管 MOS-FET， 可控硅 SCR，达林顿阵列，光电耦合，压变电阻 VARISTOR，继电器 RELAY 等半导体器件反向 恢复特性，短路特性，雪崩测试，结电容/电阻测试，漏电参数，击穿参数，增益参数，导 通参数，混合参数，电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 特性测试。
日本IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪CS-3100，CS-3200，(符合 UL 规格)
非常适合测量不同类型半导体（包括IGBT、MOSFET、晶体管和二极管）的特性
zui大峰值电压：3000 V（高电压模式，适合所有型号）
zui大峰值电流：1000 A（CS-3300高电流模式）
所有型号均支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA）
USB接口（保存屏幕图像和设置条件）
