光电导少数载流子寿命测试仪 型号:LT-1库号：M220754
1）寿命测试范围：5~10000μs；电阻率测量范围：ρ≥2Ω·cm；


测电子级参杂硅单晶片（厚度小于 1mm），电阻率范围：ρ＞0.1Ω·cm（表面可能需要抛光处理）。


测量重复性误差≤±20%。


（2）光脉冲发生装置


重复频率＞20~30次/s，光脉冲关断时间：0.2~1μs，余辉＜1μs


红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶），红外光在硅单晶内穿透深1度于500μm如测量锗单晶寿命需另行配置适当波长的光源


脉冲电源：5A～20A


（3）频源
振荡源：石英谐振器；频率：30MHz；低输出阻抗，输出功率＞1W


（4） 放器和检波器


放倍数约25倍，频宽：2Hz～2MHz


配用示波器


配用示波器：模拟带宽＞20MHz，实时采样率 1GSa/S，垂直灵敏度


2mV-5V/p，扫描范围 2.5ns-50s/p。


（5）仪器配置的光源电极既可测纵向放置的单晶，亦可测竖放单晶横载面的寿命


可测单晶尺寸：


断面竖测：直径25～150，厚度2mm～500mm


纵向卧测：直径5mm～150mm，长度50mm～800mm


（6）读数方式：可选配载流子寿命测试软件系统或数字示波器读数，软件系统测试操作简单，“测量”即可，自动保存数据及相应测试点衰减波形到数据库，可进行查询历史数据和导出历史数据等操作。


整机体积、重量、电源


主机外形尺寸：W470×D365×H155；


总重量：≤15Kg；电源：～220V 50Hz；功耗≤50W。