370A是全球的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、

1.可控硅、场效应管

9.、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
1.在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
6.在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。
6.可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。

2.技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范围 峰值电流（±） 峰值电流（脉冲式）

9.（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 阶梯：DC,80μS脉冲，

2.脉冲 阶梯量程- 　 电流： 50nA到200mA，按1-2-5顺序 电压： 50mV到2V，

8.按1-2-5顺序 偏置 到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流- 　 

1.测试量程： 100nA/p(1nA分辨率）至2A/p误差，1.5%光标读出+0.05p设定值（点光标） 发射极电流- 　

 6.测试量程： 1nA/p(10pA分辨率）至2mA/p 误差 1.5%光标读出+0.05p设定值+1nA 安全标准 UL1244，CSA231，使用 370B 进行高分辨率直流参数测量（分辨率低至 1 pA 或 2 μV）使用 371B 提供高电压和电流（高达 3,000 V 或 400 A）内置光标测量 - 点、窗口和功能线开尔文感应测量扫描测量模式波形比较和平均完全可编程1.44 MB 软盘驱动器存储曲线的设置和位图使用第三方打印机直接硬拷贝半导体的参数表征故障分析数据表生成制造测试过程监控和质量控制即将到来的检查组件匹配泰克 370B 提供高达 20 A/2,000 V 的输出能力以及 1 pA 和 50 micro V 的测量分辨率。370B 对集成电路、晶体管、晶闸管、二极管、SCR、MOSFET、电光元件、太阳能电池、固态继电器和其他半导体器件进行直流参数表征。它具有按钮源和测量配置，因此可以轻松地从一个测试更改为下一个测试。