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高均匀漫射 OTSUKA大塚电子 薄膜测厚仪 OPTM-A3
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产品属性
图文详情
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品牌
OTSUKA大塚电子
型号
OPTM-A3
类型
纳米粒度仪
安装方式
便携式
显示方式
数显
测量范围
15μm
准确度
12
重复性
31
测量时间
65s
加工定制
非加工定制
外形尺寸
15mm
重量
61㎏
光源
窄带半导体激光器
探测器
高灵敏度APD
电源
100V ± 10% 250VA
订货号
139-2195-8838
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