主要应用范围： 轻元素分析，元素分析可从Na至UROHS有害元素检测 材料分析和镀层厚度（膜厚）测量镀液
分析、黄金等贵金属鉴定 X射线管： 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可选 探测器： 硅锂半导体探测器 滤光器： 一次滤光 准直器： Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm，多种准直器可选 样品观察： CCD高精度彩色摄像头 对焦系统： 利用旋钮视觉对焦 测量方向： 从下向上 样品台： 固定样品台，超大式样室 可测元素： Na到U 测试时间： 元素含量：60-300s 元素含量分析指标：分析范围：1PPM-99.99% 准确度：5% 精确度：
0.1% 检出限：1PPM
镀层厚度的检测指标：准确度：第一层5%，第二层10% 精确度：
0.1%
检出限：
0.01μm 测试软件： 基本参数法 定性功能： 自动标示存在元素
定量功能： 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样 报告结果： 自动生成 数据处理： MS-EXCE