TO封装集成电路老化测试插座该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用，连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、 镀银、镀镍等工艺，该插座耐高温、绝缘性能好，经久耐用，深受用户的欢迎。 产品型号及规格； 1.二极管老化测试插座：TO-2 小功率晶体管插座CSX-3脚 、CSX-4脚 中功率晶体管插座CSZ-3 CSZ-4 TO-220 CY-4 大功率晶体管插座FO F1 F2 TO-3P 2、集成电路插座（金属壳封装）TO-4、6、8、10、12 3、双列集成电路插座LJZ-8、18 主要技术指标； 环境温度；-55℃—+155℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 磷青铜管镀银层厚度；1um镍2um银 高低温状态下插拔寿命；2000-3000次.