测试点数：标准配备：256点，最大扩充点数：2560点，可以每片开关板64点或128扩充 测试步骤：最大测试步骤：12288步骤，可依需求扩充 测试时间：开路/短路测试：每1000点约1.5sce 元件测试：每一元件约0.8msec至30 msec 测试范围：电阻：
1.0欧至40欧
电晶体：正负5V 电容：
1.0PF至40M欧
zenner二级体：标准配备0.1V至48V 电感：
1.0 至60H
二级体：
0.1V至9.99V 隔离点电路：隔离点自动选择， 每测试步骤5点