手提式荧光测金仪简介和技术参数
（曾祥芬 13418624495）
设备先由X荧光光谱仪测量样品表面层的成分和各元素的含量， 由此数据计算出含有该成分的均匀合金的密度。再经密度测试仪装置测得样品的真实密度与计算出的均匀合金密度相比较，判断样品是真实合金还是仅外层包裹有贵金属的合金
详细参数：
摄像头：高清晰摄像定位系统，工作可靠，效率高
分析范围： 1%～99.99%
测量时间： 自适应
测量精度： ±0.1%
X射线源：Mo靶的X射线光管
集成工业计算机，无需外接电脑；带门锁电锁，使日常管理更便捷；
探测器：固定式半导体封气正比计
数器
高压器：4～50Kv
分析：多通道模拟
软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
镀层测量：镀层厚度范围<30um
温度：15～30℃
电压：100～127V或220～240V,50/60Hz
最大功率：120W
重量：27公斤
尺寸：500*500*400mm
操作系统： Windows2000/Me/XP
