产品介绍    XLE-3型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶体的质量检测而设计开发制造的。
    正置式，三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连续彩色监视器可直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储，查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。
产品特点1、放大倍数：40倍至500倍；
2、超大型载物台，可作大范围的纵横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围。
3、可以与OVM-TM软件搭配使用。
技术参数1、机械筒长160mm。      2、物镜放大倍数数值孔径工作距离介质使用范围配置4×0.1017.912空气明场110×0.256.544空气明场1PC20×0.401.05空气明场