应 用 |
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在所有平面上 |
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测试原理 |
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涂层上表面和暴露基材区域间的高度差( D )通过表盘下自由移动的插针 (1) 测量,两个支脚 (2) 置于涂层表面(图 3 )。 |
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设计和功能 |
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表盘仪器密闭在一镀铬的金属壳中。支脚从仪器底部伸出,插针有保护套。保护套一侧的槽用于调节插针,插针通过一块玻璃板的平面调节,此配件包括在供货范围中。带附件的表盘装在一个盒子中。 | |||||||||
测量程序 |
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1)设置 |
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取下保护罩,将仪器垂直放在玻璃板平面上,如果指针读数不为零,可以通过保护套中的槽调节,直至指针达到零位,。 |
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2) 测量点准备 |
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在测量点处,涂层需被小心刮开一个 3mm 的区域,直至达到基材。 |
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3) 测量 | |||||||||
将仪器放在测量区域上,使插针接触到裸露基材,干膜厚度能直接读出,单位 μm 。 如果是柔软涂层,可在支脚下垫一块剃刀。 |
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订货信息 |
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此说明内容以英文版为准