SM-1201测厚规 品牌：TECLOCK(日本得乐) 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。 测量范围：0-10mm 最小读数：0.001mm 测量深度：26mm   原理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。 指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。   技术参数： 指式方式：指针式 测量范围：0-10mm 最小读数：0.001mm 测量深度：26mm 体积大小：(W*D*H)87*23*105mm 重量：200g   产品系列：· CMI120磁性测厚仪(膜厚仪) · CMI140涡流测厚仪 (膜厚仪) · CMI150两用测厚仪 (膜厚仪) · CMI233双探头测厚仪(膜厚仪) · CMI243测厚仪(测铁上镀锌、镍可达到700测厚仪精度) · CMI700测厚仪(膜厚仪) · X射线荧光测厚仪(膜厚仪)