射频辐射电磁场抗扰度试验（标准为IEC61000-4-3和GB/T17626.3）为评价电气和电子设备的抗射频辐射电子磁场干扰的能力建立一个共同的依据。 采用GTEM（吉赫兹横电磁波）小室进行射频辐射电磁场抗扰度测试是近年来国际电磁兼容领域发展的一项新的测量技术。由于GTEM的宽频带特性（从直流到微波），低造价（只相当电波暗室造价的百分之几），而且所用仪器（相对在电波暗室中做试验来说）有配置简单，成本便宜和可用于快速和自动测试的特点，故成为对小型设备进行测试性能价格比最佳的测试方案。 用GTEM小室构成的辐射敏感度（抗扰度）测试系统如下图所示，主要由信号源、功率放大器、场强监视器、计算机及软件和GTEM小室组成。