EM01-PV-II椭偏仪特点：
1.高精度、高稳定性
2.特定角度样品台，适合单晶硅太阳能电池的测量
3.适合绒面测量
4.操作简单
5.快速测量
6.快速、高精度样品方位对准
7.多角度测量
8.一体化集成设计
EM01-PV-II椭偏仪应用领域：
    椭偏仪适用于单晶、多晶及各种薄膜太阳能电池的折射率和膜厚测量领域，椭偏仪既适合科研院所研究使用，亦适合工厂进行工艺研究分析和产线上产品检测，EM01系列激光椭偏仪家族的传统领域，包括半导体、集成电路、微电子、光学镀膜、医学与生命科学、电化学、平板显示领域、磁介质存储、聚合物、新材料、金属处理等。
EM01-PV-II椭偏仪性能保证：
1.高稳定性的He-Ne激光光源、高精度的采样方法以及低噪声探测技术，保证了系统的高稳定性和高准确度；
2.高精度的光学自准直望远系统，保证了快速、高精度的样品方位对准；
3.稳定的结构设计、可靠的样品方位对准，结合先进的采样技术，保证了快速、稳定测量；
4.分立式的多入射角选择，可应用于复杂样品的折射率和绝对厚度的测量；
5.一体化集成式的仪器结构设计，使得系统操作简单、整体稳定性提高，并节省空间；
6.专用软件方便太阳能电池测试和建模。
7.量拓自有专利技术保障。

EM01-PV-II椭偏仪技术指标：