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涂层测厚仪TT230能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。

测厚仪TT230主要参数：
可进行零点校准及二点校准。
可对测头进行基本校准。
设有五个统计量：平均值、最大值、最小值、测试次数、标准偏差。

可存贮和统计计算15个测量值。
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。
自动关机功能。
删除功能：对测量的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。

涂层测厚仪TT230技术指标　
测量原理：涡流法
测量范围：1～1250μm

测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准）
±[(1～3)%H+1.5]μm（二点校准）