简介本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种物体的放射率。是本公司自身的产品本测量器早已经由宇宙开発、原子力、半导体产业等的尖端技术分类上所采用。从研究开発应用至生产线上的应用等，可供活用的范围非常广泛。选配记录器，可将所测量值记录并连接PC获取数据及绘制曲线，分析放射曲线、最大、最小、平均值。应
●在机器的热设计中必须使用的零件的放射率测
●藉由放射温度计的测量物体来补正放射率
●各种零件的加工／处理前后的放射率比较
●其他、从零件的放射率求取物体本身的放射率 
●材料科学院、实验领域必须的检测分析设备产品构成１．红外线照射源 藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在试料中集中照射。２．红外线检验素从试料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验 注：比率是依据光学系的构造来决定。３．放射率演算回路从反射能量检验器的输出，演算试料的放射率注：试料的反射率和放射率的关系式如下：r εε＝１－r４．放射率表示値的校正利用附属的放射率基准片（ε＝０．０６与０．９４）做校正测量原理：利用恒温放射的远红外线放射源，将能量照射后计算所反射的能量。测量波长：2-22μｍ测量范围：0.00-1.00额定精度：±0.01测量面积：Φ15mm测量距离：12mm（固定侦测头的脚柱部）被测物温：10-40℃（室温）输　　出：0-0.1V，0-1V（满载）