简介：杰出的光学系统，图像处理采用高分辨率的CCD摄像机，复合式系统的模块式设计原理
产品详细资料：
复杂的高精度元件已成为世界工业领域的趋势。很小的微米级公差成为当今的标准。施奈德博士测量技术生产的3D复合式坐标测量仪可完全满足这种质量要求。
SKM系列的复合式坐标测量系统除了传统的光学探头（光学放大物镜）外，还可配备接触式触头系统以及激光无接触触头系统，在光学探头的基础上，用户可以根据需要选择其中的一种或全部触头系统作为附加测量系统。接触式触头系统可分为Renishaw触发式（开关式）TP200及扫描式（测量式）SP600，SP25。另外，垂直的激光触头特别适合於小孔测量。
精密的花岗石机座，包括高度（Z轴）调整装置
高精度测台：金属测台，表面镀镍，滚针轴承导轨
三轴金属光栅，数显精度0.0001mm
高分辨率黑白CCD摄像机
远焦光路LED透射光源
环行LED表面光源
三轴CNC伺服电机控制系统
高配置控制和测量计算机
正版Windows XP操作系统
高精度1.5x远焦平场物镜
3D测量及数据处理软件Saphir基础功能
