从简单的手工、单一特性作业至较复杂的元器部件测量，Kestrel 200把高分辨率、高对比度光学成像与直观的微处理器相结合，为广泛的测量应用，提供准确性和简易性。Kestrel优异的光学成像甚至能在反差小的元器件上测量到难以观察的形状，例如黑色的或透明的塑料。

• 2-坐标非接触式测量
• 专利的光学成像明确地辨别轮廓，提供卓越的分辨率和对比度
• 强劲和直观的微处理器给予简易的、快捷的测量结果
• 成像采集选配件
• 高精度，低投资系统

性能特点表 

Feature/Attribute：  Kestrel  System                                             

光学构成：  Twin Pupil Mono 专利光学头体,内置测微尺                                   

标配放大倍率： 20x                                                        

可选放大倍率：10x, 50x                                                        

物镜类型：Quick Change High N.A                            

影像构成：专利Dynascope 

顶部光照明：20watt 点光源/150watt 环形光源 

底部光照明： 20watt 

测量平台： High performance 3 plate aluminium   construction, gimbal mounted 

测量范围 X axis： 150mm 

测量范围 Y axis：150mm 

测量分辨率：0.001mm 

平台精度：0.001 mm/10mm 

重复性：0.004 mm 

系统误差：Max Deviation 0.005mm ; Max Deviation in X,Y 0.007mm005mm ;Max Deviation in Z 0.025mm                         

视频输出：Digital and video 

最大载重：10kgs 

读数器：QC220 2 axis 

多语说明：Yes                                                

打印结果：Parallel and Serial port 

数据传送：Yes (RS232) 

可编程：Yes 

斜度及基准：Yes 

技术参数：

放大倍率：10X；20X；50X；100X
测量精度：7um
平台大小：150mmX100mm
测量维数：X、Y二维测量