MINITEST 720/730/740涂层测厚仪采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界顶尖技术生产。
MINITEST 720/730/740涂层测厚仪的SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您精确的涂层厚度值。此项尖端的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。
MINITEST 720/730/740涂层测厚仪技术数据表
SIDSP探头
探头 特性 |
F1.5，N0.7，FN1.5 |
F2 |
F5，N2.5，FN5 |
F15 |
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F |
N |
F |
F |
N |
F |
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测量范围 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm |
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使用范围 |
小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 |
粗糙表面 |
标准探头，使用广泛 |
厚涂层 |
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测量原理 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
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信号处理 |
探头内部32位信号处理（SIDSP） |
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精确度 |
±（1μm+0.75%读值） |
±（1.5μm+0.75%读值） |
±（5μm+0.75%读值） |
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重复性 |
±（0.5μm+0.5%读值） |
±（0.8μm+0.5%读值） |
±（2.5μm+0.5%读值） |
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低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
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最小曲率半径（凸） |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
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最小曲率半径（凹，外置探头） |
7.5mm |
10mm |
25mm |
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最小曲率半径（凹，内置探头） |
30mm |
30mm |
30mm |
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最小测量面积 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm |
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最小基体厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
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连续模式下测量速度 |
每秒20个读数 |
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单值模式下最大测量速度 |
每分钟70个读数 |
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