一、ECT测试针材质及结构材质有镀金铍铜，镀金铜针，镀金钢针三种。探针为双缩口结构，内部一颗不锈钢侧压球，针颈尾端切面及高效弹簧之铁三角配套设计，保证针颈与针管间电性接触永不间断，完全消除与探针有关之假性开路。针颈缩短，弹簧空间加大。可使弹力加强，寿命大幅增长。二、ECT测试针功效
1、大幅度提升测试功率。
您测一片电路板第一次不合格，再测一次却合格了，这表示您碰到大问题了。测试系统中的电路有间歇性开路现象，造成您错误的将好的电路板减退。假性开路让电路板组装厂每月花费上百万元在无必要的重测程序上如果能以ECT控针，可以立即改善测试部门的产出量及率。
2、独有的永不间断电接触设计
 一般传统探针的阻抗值会随着针头被压缩及缩量而有大幅度的变动。实验结果显示，此类变动常会高达500%以上。由于待测的零件脚步长度，测点形状及测板弯等变动因素，使得许多探针行程会超过或不足其2/3的设计值，但无论ECT的行程超过或不足2/3 其电性接触皆能保持性低阻值，彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。新ECT探针简单有效的内部设计，解决了此一常见的问题。在ECT-POGOUPLUS内部。弹簧推挤侧压球，再转而推挤针颈尾端斜切面，使针颈与针管保持常态接触，从而避免产生假性开路现象。此一不间断的接触，再加上ECT特有的贵金属电镀程序，提拱了电阻测量时所需的长程而一致的低值抗与高导电性。因此，测试程序中之测试程序阻抗参数可大幅度缩小，以增进测试值之可靠3、至目标测点精准度误差更严谨
ECT的双缩口能达到同类型产品无法比拟的至目标测点精准度。传统探针使用单缩口，也是以针颈与针管间的接触，来将其垂直动作局限在一定精准度内。不幸的是，此种方法仅能对其轴向尾提拱有限的控制，而ECT的双缩口设计却能将针颈的运动轴心做到更严谨的规范，让你更有把握每次都能刺中最小的测试目标
4、增强耐用度
现今的测试数与免洗制程要求，使得探针的机耐用度比过去要求高出甚多，所以ECT自设计之初即以最佳使用寿命为念。因为双缩口严谨的规范针颈垂直运动，其长度可大幅度缩短，换言之，ECT的设计使弹簧空间比传统探针要大，因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。  ECT成立于1960年，为世界知名领先业界之PCB、电子组装与电气连接产品等生产测试所需产品之生产行销商。
ECT探针的特色：
1. 多种创新头型，使POGOPLUS更具弹性，符合您测试的特定需求。
2. 备有钢针，以EC T之MicroSharp先进技术制造，常保针头磨损低，接触好。
3. 采双缩口结构设计，为业界最佳精准度，能协助您一再无误的刺中最小的测点目标。
4. 测压球的设计，针颈尾端切面及高效弹簧之铁三角配套设计，保证针颈与针管间电性接触永不间断，完全消除与探针间之假性开路。
5. 针颈缩短，弹簧空间加大，可使弹力加强，寿命大幅增长。
6. 采用ECT贵金属电镀技术，加上改良过的侧压接触，使探针导电性一路顺畅。