三维相移电子散斑干涉仪TS-SI-3P

产品概述：

相移电子散斑干涉（ESPI)技术是继光弹性和全息干涉等光测力学方法之后发展起来的一种实验力学新方法。它直接依靠激光干涉和计算机图像采集处理系统获得干涉条纹。这种方法在工程上已得到了较广泛的运用。可用于解决工程中的强度和刚度问题，并可用于残余应力测量。

三维相移电子散斑干涉仪可满足物体表面面内位移和离面位移同时测量的要求。该仪器采用高性能半导体激光器作光源，并配以电子散斑条纹实时显示和位相处理软件，使得操作方便，测量结果兼容性强（便于通用数据处理软件接口）。

主要技术指标

◆光源：半导体泵浦固体激光器（绿光）

输出功率大于20mw，波长532nm

◆相机：1280 × 1024 USB2.0数字摄像头

◆镜头：25mm定焦镜头（标配），可选配其它C接口镜头

◆工作距离：400～800mm

◆相移器：5nm

◆演示试件：圆盘受均布载荷，三点弯曲梁

◆最大范围：￠300mm

◆尺寸：520cm × 370cm × 250cm

◆重量：22kg

仪器特点

●可以测得被测物的三维位移场，独立得到U、V、W场

l 采用单纵模半导体泵浦绿固体激光器作为光源，使得条纹更清晰、更稳定

l 采用高分辨率USB数字摄像头进行图像采集使得连接更可靠、处理更快捷

l 采用光纤激光分光器，使用和调节都更加方便

l 专门设计的空间相移器及其控制器，可以直接获得位移场的三维分布图

l 仪器结构合理、轻巧、美观、同时具有良好的刚度及调节方便的特点。

l 仪器中的光学部件设计、加工考究，如扩束镜是过半球形，具有扩束光斑大，均匀等优点；全反射镜是针对532nm激光波长的，反射率达99.9%，真空镀硬膜，具有耐磨损，耐腐蚀等优点。